Generowanie optymalnych wektorów testowych pamięci ram

Efektywne wektory testowe i sposoby ich generowania odgrywają znaczącą rolę w testowaniu zarówno oprogramowania jak i sprzętu. Jednym z najtańszych podejść do problemu generowania wektorów testowych jest podejście oparte o wektory losowe. Obecnie w literaturze zaproponowanych zostało wiele nowych metod znacząco poprawiających efektywność testowania losowego należących do grupy kontrolowanego testowania losowego. W podejściu tym wybrane parametry tworzonych wektorów są z góry ustalane. W artykule zaproponowana zostanie nowa metoda generowania wektorów testowych.
W proponowanym podejściu jako funkcja ich dopasowania użyta zostanie Maksymalizacja Minimalnej Odległości Hamminga, w odróżnieniu do standardowej odległości Hamminga używanej w podejściu znanym z literatury. Pozwoli to na wygenerowanie optymalnych wektorów testowych, których efektywność sprawdzona zostanie w odniesieniu do uszkodzeń PSF pamięciJednym z najbardziej widocznych dzisiaj przejawów gigantycznego postępu naukowotechnicznego jest stopień rozwoju elektroniki cyfrowej. Jednym z efektów tego rozwoju, a może bardziej jego przyczyną, jest wciąż rosnące zapotrzebowanie na szeroko rozumiane systemy cyfrowe. (...)

Artykuł zawiera 21249 znaków.

Źródło: Czasopismo Logistyka

Więcej w tej kategorii: « Henry Lloyd - łańcuchy zaopatrzenia Zastosowanie programów komputerowych wspomagających projektowanie silników spalinowych w odniesieniu do minimalizacji skutków oddziaływania na środowisko »
Zaloguj się by skomentować