Zaloguj się

Efektywne wykrywanie uszkodzeń psf oparte o zmianę adresacji w iteracyjnym procesie testowania pamięci ram

Artykuł przedstawia propozycję zastosowania testów typu March do efektywnego wykrywania uszkodzeń złożonych (uszkodzeń wiążących zależnością wiele komórek pamięci) występujących w pamięci RAM. Proponowana idea pozostawia niezmienione wartości w testowanym układzie po zakończeniu sesji testowej. Może zatem być używana do cyklicznego testowania pamięci podczas normalnej pracy urządzeń elektronicznych zawierających pamięć RAM. Przedstawiana technika pozwala z bardzo wysokim prawdopodobieństwem wykryć wszystkie istniejące w pamięci uszkodzenia złożone. Zastosowanie w proponowanej idei testów typu March gwarantuje również wykrycie wszystkich uszkodzeń prostych znajdujących się w pamięci.
Ze względu na liczbę komórek powiązanych uszkodzeniem, uszkodzenia pamięci można podzielić na uszkodzenia związane z jedną komórką pamięci (np. Stuck-at Fault) i uszkodzenia związane z wieloma komórkami pamięci (np. Coupling Fault, Pattern
Sensitive Fault). Ogólnym przypadkiem uszkodzenia należącego do grupy drugiej jest uszkodzenie typu Pattern Sensitive Fault, gdzie zależnością powiązane jest n komórek pamięci. Wartość (lub możliwość zmiany wartości) jednej z tych komórek (komórki bazowej) jest zależna od wartości i ich zmian w n-1 pozostałych komórkach powiązanych tym uszkodzeniem. (...)

Artykuł zawiera 16545 znaków.

Źródło: Czasopismo Logistyka

Zaloguj się by skomentować