Zaloguj się

Transformacja transparentnych testów krokowych w testy symetryczne

Pamięci półprzewodnikowe wykorzystywane są obecnie we wszystkich systemach cyfrowych w tym w systemach o znaczeniu krytycznym, w których proces testowania poszczególnych podzespołów musi odbywać się periodycznie podczas normalnej pracy całego systemu. W wypadku pamięci RAM i testowania periodycznego bardzo ważną rolę odgrywają transparentne testy krokowe. Jedną z najbardziej interesujących technik pozwalających na implementację testów transparentnych jest technika oparta na testach symetrycznych. W artykule przedstawiona zostanie metoda transformacji dowolnego niesymetrycznego testu krokowego w postać symetryczną.
Kluczową rolę w technikach testowania pamięci odgrywają testy krokowe (ang. march tests)[1-3]. Są one obecnie najczęściej stosowanymi testami w procesie testowania pamięci.
Test krokowy składa się ze skończonej liczby elementów typu March. Element typu March (faza testu) składa się ze skończonej liczby operacji, z których wszystkie oddziałują na określoną komórkę przed przejściem do następnej komórki pamięci. Komórka następna określona jest poprzez sposób adresowania, który może być wzrastający, w którym adresy wzrastają od 0 do N-1, oznaczany przez ⇑, lub malejący, w którym adresy maleją od N-1 do
0, oznaczany przez ⇓. W niektórych wypadkach sposób adresowania można wybrać dowolnie i jest to oznaczane przez c. (...)

Artykuł zawiera 20278 znaków.

Źródło: Czasopismo Logistyka

Zaloguj się by skomentować