Wieloprzebiegowe testy krokowe pamięci ram
Tradycyjne testy pamięci oparte o pojedynczy przebieg posiadają stałą i dość niską wydajność w odniesieniu do uszkodzeń uwarunkowanych zawartością (PSF). Celem zwiększenia tej wydajności stosuje się m.in. testowanie wieloprzebiegowe w których ten sam test bazowy realizowany jest wielokrotnie przy zmienianych warunkach początkowych. W artykule uwaga skupiona zostanie na porównaniu różnych testów krokowych i możliwości ich wykorzystania w technice testowania wieloprzebiegowego. Porównanie to oparte będzie o zdefiniowany współczynnik ważonej wydajności testów pozwalający w bardziej obiektywny sposób określić wydajność testu.
- 0
- Kategoria: Pozostałe zagadnienia