Transformacja transparentnych testów krokowych w testy symetryczne
Pamięci półprzewodnikowe wykorzystywane są obecnie we wszystkich systemach cyfrowych w tym w systemach o znaczeniu krytycznym, w których proces testowania poszczególnych podzespołów musi odbywać się periodycznie podczas normalnej pracy całego systemu. W wypadku pamięci RAM i testowania periodycznego bardzo ważną rolę odgrywają transparentne testy krokowe. Jedną z najbardziej interesujących technik pozwalających na implementację testów transparentnych jest technika oparta na testach symetrycznych. W artykule przedstawiona zostanie metoda transformacji dowolnego niesymetrycznego testu krokowego w postać symetryczną.
- 0
- Kategoria: Pozostałe zagadnienia